GIS設備的（de）絕緣（yuán）性能（néng）是確保（bǎo）其安全運行的重（chóng）要（yào）條件。GIS設備內部（bù）中的金屬微粒、粉末和水分等（děng）導電性雜質是引發GIS設（shè）備故障的原因。GIS設備存在導電性雜（zá）質時，因局部（bù）放電而發（fā）出不正常聲音、振動（dòng）、產生放電電荷、發光、產生分（fèn）解氣體等異常現（xiàn）象。GIS的故障率具（jù）有非偶然性（xìng）的特點，GIS在生產、安裝（zhuāng）以及運行等過程都（dōu）可能使（shǐ）GIS內部有電極表麵（miàn）髒汙、毛刺、自由粒（lì）子、接觸不良引起浮電位等缺陷。上述缺陷導致GIS在高電壓下造成內（nèi）部電場畸變，畸（jī）形電場發展到一定程度，便（biàn）形成GIS內的（de）局部（bù）放電，在絕緣係統（tǒng）中留下缺陷，從而定（dìng）期進行狀態檢測十分有必要。
GIS中主要缺陷類型
1. 接地體和帶（dài）電體部分上的突起、毛刺（cì）
接地體或帶（dài）電部分上的凸（tū）起（qǐ）將使電場局（jú）部增高，不過由於交流電壓變化緩慢，這種缺陷對於設備交流耐電水平的影響相對較小，但卻會（huì）大大降低雷電衝擊（jī）耐（nài）電水平。
2. 顆粒：自由顆粒和盆式絕（jué）緣子上的固定顆粒
自由移動（dòng）的顆粒對於設備的雷電衝擊耐電水平的影響相對較小，但卻會使交流耐電水平（píng）明顯降低，其主要取決於顆（kē）粒的形狀和位置，顆粒越長且越接近高壓導體，危險性就越大，如果移動到支持絕緣子上，也可能（néng）使之絕緣劣化，從而引起閃絡。
3. 絕緣子（zǐ）內（nèi）部的空隙和缺陷
絕（jué）緣子內部的缺陷會（huì）產生較強（qiáng）的局部放電，繼而產生樹枝放（fàng）電並可能引起擊穿。不（bú）過由於超聲波（bō）會在絕緣（yuán）材料中發（fā）生衰減，故而並不能有效探測出此類缺陷。
4. 電氣懸浮和機械鬆動的屏蔽
如果電場屏（píng）蔽發生機械鬆動，就有可能產生電位（wèi）懸浮，如（rú）果鬆動正好發生在帶電的電極上，則會引起（qǐ）屏蔽和電（diàn）極之間產生較強的局部（bù）放電。
綜上所述，超聲波檢測對於凸起、毛刺（cì）、顆粒以及電場屏蔽鬆動所引發的GIS內部局放缺陷有著較高的靈敏度。
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