在ACSD和ACLD試驗中，均提到了局部放電測量背景噪聲（shēng），在兩個試驗中均規定（dìng）噪聲水平應（yīng）不大於100pC。但在更多情況下，為了保證能檢（jiǎn）測並記錄局部放電的起始和熄滅電壓，且考慮1.1Um/√3電壓下可接受的放電（diàn）量為100pC，因（yīn）此推薦背景噪聲水平遠低100pC。而（ér）局（jú）部放電背景噪聲水平是由幹擾決（jué）定的，嚴重的幹擾（rǎo）信號可使局部放電測量無法進行，因此（cǐ）局部放電測（cè）量中的抗幹擾措施是十分重要的。
在（zài）局部放電測量試驗現場以（yǐ）及局部放（fàng）電在線監測過程中存在多種幹擾源，使得幹擾信號也（yě）不盡相同。要有效的（de）消除或降低幹擾，必須先找到（dào）幹擾源，從幹擾源入手。幹擾的來源很多，如電力係統諧波、電磁場輻射、試驗回路接線或接地不良、試驗設備或非測量設備的內部放電、閉（bì）合或開斷電力（lì）係統中（zhōng）的開關引起的電弧、閉合或開斷晶閘管（guǎn）引起（qǐ）的脈衝電流以及懸浮帶電金屬體的放電等（děng），幹（gàn）擾源不（bú）同，幹擾信號的波形特征也不（bú）相同。幹擾（rǎo）類型及幹擾來源大致分類見下表。
1. 噪聲（shēng）幹擾類型
2. 抑製（zhì）減弱幹擾措（cuò）施
根據幹擾的來源，可以采取濾（lǜ）波、屏蔽以及可靠接地等措（cuò）施抑製或減弱幹擾，例如通過對係統添加低通濾（lǜ）波器來抑製試（shì）驗電（diàn）壓供電源中的幹擾；通過對試驗室進行屏蔽來抑製（zhì）電磁場輻射的幹擾；通過可靠接地來（lái）抑製閑置設備等的懸浮帶電金屬體引起的懸浮帶電體放電的（de）幹擾。局部放電測量
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