GIS內部缺陷種類及其放電特征（1）

GIS設備內部常見缺陷

a. 微粒及異（yì）物的影響(GIS設備內殘留自（zì）由導（dǎo）電微粒，如金屬碎屑（xiè）或金屬顆粒。)自由（yóu）微粒及異物產生的原因，主要是現（xiàn）場安裝條件不如生產工廠優越，無法徹（chè）底清除GIS設備內部的微粒及異物，這些微粒及異物以自由（yóu）金屬微粒危害（hài）最甚。GIS設備（bèi）內部（bù）的金屬微粒，具有以（yǐ）下幾個主要特征：
（1）自由金屬微（wēi）粒在電壓作用下獲得電荷並發生移動，當電（diàn）壓超過一（yī）定值時，這些微粒就能在接地外殼和高壓導（dǎo）體之間跳動，從而發生局部放電。
（2）當金屬微（wēi）粒移動靠近而未接觸高壓導體時，如果距離小於某一極限值，在強電（diàn）場（chǎng）力作（zuò）用（yòng）下，容易引起局部放電。
（3）絕緣子表麵上的金屬微（wēi）粒，常常在設備交接試（shì）驗時檢測不出來（lái），經過一段運行，由於機械振動或操（cāo）作過電壓引起的靜電力，使它（tā）產生輕微的移動而形成微粒堆積，在某種程度上加大了放電發生的（de）幾率。
（4）當金屬微粒遊離到（dào）絕（jué）緣子的表麵，在一定條件下被固（gù）定下來時(比如被油脂粘（zhān）住)，這樣絕（jué）緣（yuán）子表麵的金屬微粒狀似金屬（shǔ）突（tū）出物，在（zài）高電壓環境下，極易造（zào）成尖端放電。

b. 接（jiē）觸（chù）不良的影響(GIS設備內的導體接觸不良等)接觸不良發生的故障為內（nèi）部缺陷故障發生率之（zhī）首。此類故障可分為兩類：
（1）主觸頭接觸不良而（ér）產生的故（gù）障，分（fèn）析（xī）其產生的原因，一方麵是自由（yóu）微粒在試驗（yàn）中不（bú）易被檢測，而得不到徹底的清理。這些自（zì）由微粒附著主觸（chù）頭表麵，使接觸電阻增大，一旦主觸頭處於接觸狀態，因電（diàn）阻（zǔ）大而發熱燒損。另一方麵，隨（suí）著（zhe）GIS設備長時間地運行，在電弧的（de）作用下主觸頭容易發生燒損，以上兩種（zhǒng）因素如果得不到及（jí）時的維護，從而逐漸發展成（chéng）主觸頭接觸不良的故障。
（2）屏（píng）蔽罩接觸不良而產生（shēng）的故障，常在設備運行中發生。並隨著（zhe）運行時間延續而（ér）發展(如短路電流或斷路器（qì）操作的振動作用)，最終威脅或破壞GIS的絕緣性（xìng）能。

c. 潮濕的（de）影響（xiǎng）
潮濕引起的故障通常對SF6介質性能（néng）影響最大的成分是水蒸氣，如果水蒸氣過量，當溫度下降（jiàng）時（shí）就會出現凝露，結合其（qí）他混合物（wù），就會影（yǐng）響（xiǎng）介質表麵的（de）導電性，促使介質老化或直接引發故障（zhàng）。

d. 高（gāo）壓導體尖刺的影響(GIS設備中的導體（tǐ）表麵存（cún）在突出物（wù），如（rú）毛刺、尖角等)
高（gāo）壓導體（tǐ）上的尖刺通常是加工不良、機械破壞或組裝時的擦刮等因素造成（chéng）的，從而形成絕緣氣體中的高場強區。這些（xiē）尖刺在工頻電壓下電暈比（bǐ）較穩定，因而（ér）在穩態工作條件下（xià）一般不會引起擊穿。然而，在快速暫態條件下，譬如在雷（léi）電波，尤其是快速暫態過電壓情況下，這些缺（quē）陷就會引起故障。

e. 絕緣子缺（quē）陷的影響(GIS設備中固體絕緣材料內（nèi）部的缺陷如（rú）殘存的氣（qì）隙（xì）)
絕緣子上發（fā）生的擊穿故障（zhàng）是由於早（zǎo）期的絕緣子空穴問題（tí）造成的（de），所以固體絕緣的缺陷（xiàn）常發生在固體絕緣表麵或內部。絕緣表麵缺陷通（tōng）常是由（yóu）其它類型缺陷引起的二（èr）次效應（yīng），比如局部放電產生的分解物、金屬微（wēi）粒引起的破壞。

f. 其它因素的影（yǐng）響
由其它因（yīn）素造成的故障占11%，例如（rú），GIS設（shè）備（bèi）的器件體積大、重量大，在搬運過程中，因機械振動、組件的互相碰撞（zhuàng）等外力作（zuò）用，常使緊固件鬆動、元件變（biàn）形和損傷。另外，GIS設備（bèi）裝配工作是一個複雜的過程（chéng），組件連接和密（mì）封工藝要求很高，稍有不（bú）慎就會造成絕緣（yuán）損傷、電極錯位等嚴重後果，對今後GIS的（de）運行帶來了（le）後患。