GIS局部放電產生的原因總結

GIS中有可能出現的主要絕緣缺陷可以總結為（wéi）以下幾個方麵：
 
（1）固定缺陷：不僅包括了位於外殼表麵和導體之上的金屬（shǔ）突起，還（hái）包括了在固體絕緣的一些微粒，對前者來說，它主要是（shì）在製作過程、安裝（zhuāng）過程中產生，由於製造工藝控製或（huò）擦劃導致的較為尖銳的毛刺。如果工頻狀態是較為穩（wěn）定（dìng）的（de），那麽這些缺陷不會（huì）發生擊穿現象，不過，如果出現諸如快速暫態過電壓和衝擊等快速電壓的情況（kuàng），那麽（me）極有可能會發生（shēng）擊穿現象；

（2）位於GIS腔體內，並且能夠進行自由移動的金屬顆粒，這些（xiē）主（zhǔ）要來源於GIS製造、安裝及運行（háng）過程中，這是非常常見的，這些微粒能夠對電荷進行一定的積累。如果所處的電壓（yā）場是交流的（de），那麽這些微粒就能夠產生移動，不過無論是移動過程，還是放電過程（chéng），都是隨機發生的。這些微粒最可能（néng）發生放電的情況就是在它們十分靠近高壓導體，不過（guò）並沒有發生接觸，和導體上固定的微粒相比，這種放電的可能性要高出至少10倍；

（3）傳（chuán）導部分出現了不良的接觸，諸如浮動部件，或者是靜電屏蔽（bì）等問題，對於那些浮動或者鬆動的部件（jiàn）來說，局部的場（chǎng）強（qiáng）過高使得（dé）它們極（jí）有可能會發生放電現象，其檢測起來相對比較容易，並（bìng）且會（huì）出現（xiàn）反複的放電；

（4）在（zài）生產和製造過程中，絕緣子矽橡膠出現了內部氣隙或者表麵的痕跡，後者是由於實驗閃絡所（suǒ）導致的，也包括了電極表（biǎo）麵所存在的粗糙，以及嵌入的一些金屬微粒，不僅如此，由於對金屬電極和環氧樹脂具有不同的收縮係數（shù），所以也會（huì）產生（shēng）一定的空（kōng）隙和氣泡。
   
以上所說的GIS的絕緣體所存在的缺（quē）陷，最終都有可能衍化成（chéng）局部放電，如果發生了這種局部放電，那麽絕緣材（cái）料會被腐蝕（shí），甚至會變成電樹枝，嚴重的話會使整個絕緣體（tǐ）被擊穿。