GIS局部放電
GIS設備（bèi）出現局部放電的主要原因是其自（zì）身存在的絕緣缺（quē）陷，因為在生產、運輸以及（jí）現場安裝設備的（de）過程中難以避免出現工藝和清（qīng）潔上的（de）缺陷和差錯，這些缺陷會影響（xiǎng）GIS設備的可（kě）靠（kào）性，些種缺陷包括固定缺陷（xiàn）、自（zì）由導電微粒、接觸不良和浮電（diàn）位（wèi）、絕緣子缺陷等，這些（xiē）缺陷在電場作（zuò）用下容易出現局部放電，可能導致GIS設備的絕（jué）緣（yuán）損壞。具體原因說明如下：
（1）固有缺陷。
其中包括外殼內表麵上和導體（tǐ）由於安裝欠佳、刮傷和毛刺造成的金屬凸（tū）起物，以及固體（tǐ）絕緣表麵上（shàng）的凸起微粒。生產工藝不良或（huò）安裝不精細是造（zào）成這些固（gù）定（dìng）缺陷的原因，導體表（biǎo）麵會出現細尖的（de）毛刺。此類缺陷雖然在穩定的（de）運行電壓狀態下不會引起擊穿，但對於特殊狀況電壓如衝擊電壓、快速暫（zàn）態（tài）過電壓(VFOT)條件（jiàn）下會異常敏感並容易導致絕緣擊穿。（2）GlS設備內可自由移動的金屬微粒。
作為氣體絕緣（yuán）裝置中最常見的缺陷之一，GlS設備（bèi）在製造、裝配（pèi）和運行的過程中中普遍容易（yì）產生自由金屬微粒。GlS故障大部分由其導致。在交（jiāo）流電（diàn）壓影響下，GlS中的自由金屬微粒能夠獲得電荷並在電場的作用下移動。雖然在很大程度上，微粒運動與放電的可能性是隨機的，但是微粒在巨大（dà）的電場作用下可能徹底穿過接（jiē）地外殼（ké）和高壓導體之間的間隙。微粒（lì）的形（xíng）狀、材料等因素決定了微粒的運動程（chéng）度，當微粒靠近而未接觸（chù）高壓導體或遷移並固定（dìng）到絕緣子表麵時，最可能發生局部放（fàng）電。（3）傳導部分接（jiē）觸不（bú）良和浮電位。
靜電屏蔽中的導體連接方式通常采用輕負荷接觸（chù），這些接觸會隨時間推移變成接觸不良。一方麵，接觸不良點經受了會產生的具（jù）有腐蝕性的產物的弱放電，進而導致進一步惡化了其中的電接觸，使得屏蔽電極（jí）成為電位浮動的（de）電極（jí）。在另一方麵，接觸點會出現機械振動使得接觸變差，最終（zhōng）導（dǎo）致（zhì）出現電極電位浮動，這（zhè）些機械振動由機械上的不良接觸產（chǎn）生的靜電（diàn）力引起。（4）絕緣子本身存在缺陷。
絕（jué）緣子（zǐ）製造過程中容易形成由於實驗閃絡和（hé）內部空隙引起的表麵（miàn）缺陷，另外因電極粗糙容易嵌進金屬微粒而引起缺陷。還會出現環（huán）氧樹脂（zhī）固化過程中的收縮程度和金屬電極不同引起的層離和空隙。但這些缺陷一（yī）般非（fēi）常細小因（yīn）而難以檢測。一般情況下（xià），由上述的各種缺陷所引發的局部放電具有以下的特征：
1）GIS設備中在工頻正負（fù）半周內絕緣子內部的氣隙放電基本類似，即正負半周（zhōu）放電（diàn）指（zhǐ）紋基本對稱（chēng）。在實驗電（diàn）壓幅值的絕對值提高部（bù）分可能會出現放（fàng）電脈（mò）衝，所加電壓決定（dìng）了放電頻率（lǜ），但是如果（guǒ）出（chū）現強烈的放電（diàn）後，放電（diàn）脈衝可能會拓展到電壓絕對值下降部分
相位上，而且每次（cì）放電的大小不相（xiàng）同。
2）電暈放電容易（yì）發生在電場不均勻時的導體（tǐ）周圍，GIS設備（bèi）中的電暈放電（diàn）過程相似於空氣中的電暈放電，因為氣體中（zhōng）充滿自（zì）由移動的（de）分子，因此局部放電脈衝（chōng）容易發生在施加電場的正負峰值附近，並且隨著電壓增（zēng）加，局部放電脈衝加大，其頻（pín）率也增加（jiā）。
3）通常用自由導電（diàn）微粒和固體導（dǎo）體（tǐ）上金屬突起微粒放電的相位分布存在明顯不同這個特征來區分缺陷類型的不同。GIS設（shè）備中的自由導電微粒能吸（xī）引電荷，從而在交流電壓作用下衍生出各種（zhǒng）隨機出現的姿態，姿態的隨機性體現在於所加（jiā）電壓和微粒（lì）特性的差異上。自由導電顆粒可能跳躍至GIS設備的高（gāo）場強區，這樣形成的（de）局防易演變（biàn）為絕緣擊穿（chuān）的放電通道（dào）。在各種自由（yóu）導電微粒之中，殘（cán）留在（zài）GIS設備的金屬碎（suì）屑或金屬顆粒產生的各種局放效應是最為嚴重的，所以GIS設備內可自（zì）由移（yí）動（dòng）的金屬（shǔ）微粒對設（shè）備（bèi）產生較大危害。
4）在出（chū）廠時，絕緣子可能是完好的，但在整個（gè）運輸（shū）、安裝以及調試過程中容易對絕緣子造成輕微損傷。這些損傷在運行初期可能不會顯露出來，但卻增加了缺陷（xiàn）演變的可能，成為潛在隱（yǐn）患。絕緣子表麵的（de）缺陷增加表麵電荷的積累，這種積累（lèi）損壞了絕緣子的表（biǎo）麵（miàn）絕緣，使（shǐ）得絕緣子滑閃甚至發生擊穿。其放電（diàn）特征為：小電荷的局部放電脈衝（chōng）發生在電流最大相（xiàng）位過零時，隨著電壓上升出現不規則的脈衝。
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