高頻振蕩波（OSI）試驗方法

高頻振蕩波（OSI）試驗是通過直流電源給電（diàn）力電纜充電（diàn）。試（shì）驗原理圖如圖所示，直（zhí）流電源先對電容C1充電（diàn），當達到預期的試驗電壓（yā）之後，通（tōng）過放（fàng）電球隙給串聯電阻R2和電抗L，試品電容Cx放電，得到一個阻（zǔ）尼振蕩電壓。從而在試品電容上產生高（gāo）壓Ux。

高頻震蕩波試驗電路圖